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P3D光學輪廓儀
產品概述： P3D光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統。P3D的白光干涉儀可以埃級分辨率對表面進行高分辨率測量。銷售聯系方式：陳正毅 18918393229。
技術參數：

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產品簡介：

P3D光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統。P3D的白光干涉儀可以埃級分辨率對表面進行高分辨率測量。 該系統支持相位和垂直掃描干涉測量，兩者都是傳統的相干掃描干涉技術（CSI）。

P3D測量技術的優勢在于測量的垂直分辨率與物鏡的數值孔徑無關，因而能夠在大視野范圍內進行高分辨率測量。測量區域可以通過將多個視場拼接為同一個測量結果而進一步增加。 P3D的用戶界面創新而簡單，適用于從研發到生產的各種工作環境。

主要應用：

臺階高度：納米級到毫米級的3D臺階高度

紋理：3D粗糙度和波紋度

形式：3D翹曲和形狀

邊緣滾降：3D邊緣輪廓測量 

缺陷復檢：3D缺陷表面形貌

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