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單點薄膜厚度測量系統
產品概述： 由KLA公司生產的Filmetrics薄膜厚度測量儀是世界上先進的桌上型薄膜厚度量測系統，F-20因其便捷性，高性價比成為Filmetrics系統中的暢銷型號。銷售聯系方式：陳正毅 18918393229。
產品簡介：

由KLA公司生產的Filmetrics薄膜厚度測量儀是世界上先進的桌上型薄膜厚度量測系統，F-20因其便捷性，高性價比成為Filmetrics系統中的暢銷型號。

無論是測量薄膜的厚度、光學性能，還是材料的反射率或透射率，F20都滿足了您的要求。設備安裝僅需連接USB，結果便可在幾秒鐘獲得。

技術參數：

1.jpgf20_straightshot-large.jpg4.jpg3.PNG

主要應用：

其模塊化的性質，F20可以適應多種應用:

厚度、折射率、反射率、透射率的測量:

單層或多層堆疊薄膜

襯底材料  

液體薄膜或空氣間隙

適用于多種薄膜狀態的測量，包括:

在平面或曲面上

現場尺寸縮小到20微米

量測樣品種類:

幾乎任何光滑的、半透明的或輕微吸收的薄膜都可以測量。這包括大多數介質和半導體。例如：

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